otsuka大塚电子 DLS-8000HL/HH 动态光度计 利用动态光散射可以测量颗粒尺寸和颗粒尺寸分布（颗粒尺寸和颗粒尺寸分布），利用静态光散射可以测量绝对分子量、回转半径和第二维里系数

otsuka大塚电子 SM-100S 智能涂层测厚仪　 高精度便携式薄膜测厚仪 “ 我想测的时候不能立即测量”、 您在测量薄膜厚度时是否遇到过这些问题？这款智能薄膜测厚仪具备以下特点，可以解决您的问题。

otsuka大塚电子 光谱光分布测量器 GP-500 这是一个用于测量照明灯具光分布特性的设备。 ・采用自主研发的光谱仪，可实现高精度测量！・可同时进行颜色测量 和光分布数据采集！・光谱测量速度 与照度计一样快！・可 根据光分布测量结果进行照明因子分析！ ・符合标准的测量系统！ ・测量标准部门可提供技术支持！

otsuka大塚电子 GP-1100 光谱光分布设备 这是一个用于测量照明灯具光分布特性的设备。 ・采用自主研发的光谱仪，可实现高精度测量！・可同时进行颜色测量 和光分布数据采集！・光谱测量速度 与照度计一样快！・可 根据光分布测量结果进行照明因子分析！ ・符合标准的测量系统！ ・测量标准部门可提供技术支持！

otsuka大塚电子 GP-2000 光谱光分布器 支持有机发光二极管和大型显示器的光分布测量 通过自动控制双轴测角仪，可以测量每个角度的光谱分布，并利用球面系数法计算总光谱辐射通量、总光通量、色度、色温等。 采用新型探测器可实现宽动态范围测量。 与 IESNA LM-75 兼容 GP-2000 与 B 型和 C 型均兼容。 还支持紫外和近红外　波段的光分布测量选项 可提供标准

otsuka大塚电子 MINUK 3D 光波场三维显微镜 特征02可采集1400微米深度范围内的所有信息，并可沿任意高度进行切片。单次测量即可获取相当于 数千张图像的信息。 以往，无法确定目标区域的深度，需要拍摄数千张图像才能找到目标区域。MINUK 可即时测量 700 x 700 μm 区域内、深度方向 1400 μm 范围内的信息。它以约 2 μm 的分辨率采集约 700 张切片图像，这些

otsuka大塚电子 OPTM-A1 显微薄膜厚度计 OP™（Optimum）是一款利用显微光谱技术测量微观区域绝对反射率的仪器，能够高精度地分析薄膜厚度和光学常数。

otsuka大塚电子 OPTM-A2 显微薄膜厚度计 OP™（Optimum）是一款利用显微光谱技术测量微观区域绝对反射率的仪器，能够高精度地分析薄膜厚度和光学常数。

otsuka大塚电子 OPTM-A3 显微薄膜厚度计 OP™（Optimum）是一款利用显微光谱技术测量微观区域绝对反射率的仪器，能够高精度地分析薄膜厚度和光学常数。它可以 无损、非接触地测量各种薄膜、晶圆、光学材料等表面涂层和多层膜的厚度。其测量速度极快，每点测量仅需1秒。此外，它还配备了配套软件，即使是初学者也能轻松分析光学常数。

otsuka大塚电子 RETS-100nx 延迟测量装置 这款延迟测量装置兼容所有类型的薄膜，包括OLED偏光片、层压相位差膜以及带有IPS LCD相位差膜的偏光片。 它可实现高速、高精度测量，并兼容超高Re值（60,000 nm）。 该装置能够“无损地测量”薄膜的层压状态，无需剥离薄膜。 此外，它还配备了易于使用的软件和校正功能，可以处理因重新定位样品而导致的偏差，从而实现简便、高精度的测量。