otsuka大塚电子 nanoSAQLA 纳米颗粒测量器 多分析物纳米颗粒尺寸测量系统 nanoSAQLA（带自动进样器 AS50） nanoSAQLA（nano Sakura）与AS50自动进样器的组合可实现多达50个样品的连续自动测量。

otsuka大塚电子 DLS-6500HL/HH 动态光度计 动态光散射可用于测量颗粒尺寸和颗粒尺寸分布。 可以选择氦氖激光器、固态激光器和双激光器规格。 具有多达 4096 个通道的相关器能够对浓缩聚合物溶液进行多模式分析。 结合可选的凝胶旋转池，可以对凝胶状态进行分析。

otsuka大塚电子 差示光散折射仪 DRM-3000 特征 注射器系统使样品注入变得容易。 控制和数据采集均通过电脑完成，使得数据处理变得容易。 可实现低噪声、高稳定性和高度可重复的测量。

otsuka大塚电子 SF-3/200 高速光谱测厚仪 该设备可在研磨和抛光过程中以超高速、实时、高精度非接触式测量晶圆和树脂。

otsuka大塚电子 SF-3/300 晶圆光谱测厚仪 该设备可在研磨和抛光过程中以超高速、实时、高精度非接触式测量晶圆和树脂。

otsuka大塚电子 SF-3/800 超高速光谱干涉式 该设备可在研磨和抛光过程中以超高速、实时、高精度非接触式测量晶圆和树脂。

otsuka大塚电子 SF-3/1300 高速光谱测厚仪 该设备可在研磨和抛光过程中以超高速、实时、高精度非接触式测量晶圆和树脂。

otsuka大塚电子 MCPD-9800 多通道光谱仪 这是一款多功能多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。它可在短短 5 毫秒内完成光谱测量。

otsuka大塚电子 MCPD-6800 多通道光谱仪 MCPD-6800 是一款基础光谱测量与分析系统。它能够即时测量光谱，其可自由配置的测量光学系统和丰富的选件，使您可以根据不同的应用需求进行配置。您可以从四种测量波长范围中进行选择。

otsuka大塚电子 DLS-6500SL 光散射光度计 溶液中的颗粒会进行布朗运动，其运动强度取决于颗粒大小。当这些颗粒受到光照射时，散射光强度会呈现快速波动（小颗粒）和缓慢波动（大颗粒）。 利用光子相关光谱法分析这些波动，即可确定颗粒大小和颗粒大小分布。