otsuka大塚电子 MCPD-9800 多通道光谱仪
这是一款多功能多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。它可在短短 5 毫秒内完成光谱测量。

otsuka大塚电子 MCPD-9800 多通道光谱仪

otsuka大塚电子 MCPD-9800 多通道光谱仪

这是一款多功能多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。它可在短短 5 毫秒内完成光谱测量。由于采用标准光纤，它无需指定样品类型即可与多种测量系统配合使用。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，它还可以与软件结合使用，用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。

 产品信息

特征

我们提供各种类型的探测器，以满足您的需求。

我们提供三种类型的探测器，共有 12 个波长范围，其中包括顶级型号 MCPD-9800，我们将根据您的需求和测量应用推荐最佳探测器。

通信接口支持USB和LAN

它配备了通用 USB 端口和 LAN 通信功能，可以从远处进行远程测量，从而提供更大的便利性和更广泛的测量应用。

高速、高灵敏度光谱测量

MCPD-9800 使用 512 通道或 1024 通道探测器元件和探测器的内部存储器，可以高灵敏度和高精度地测量紫外、可见光和近红外区域不断变化的发射、透射和吸收光谱，速度可达每 5 毫秒一次（对于 MCPD-9800）。

光纤自由光学系统

标准光纤使您可以自由组装光学系统，而不受样品形状或尺寸的限制。它还可以轻松地与其他设备（例如显微镜和大型载物台）结合使用，在广泛的领域中表现出优异的性能。

可靠性

符合日本工业标准 (JIS)！可作为高性能分光光度计使用

MCPD 符合日本工业标准 JIS Z 8724（测量颜色的方法 - 光源颜色）中对分光光度计的所有要求精度标准，因此您可以放心使用。

符合国家标准！我们提供可靠的服务。

大塚电子光学测量评估中心已获得国际MRA*2认证，成为符合JCSS“光"类别标准的校准实验室，该认证依据《测量法》建立的校准实验室注册制度（JCSS*1注册制度）。为了公平地评估照明灯具和光源的性能，国内外正在开展各种标准化工作，例如光特性测量方法的标准化，而这些标准所要求的光度学正是基于“光"的可追溯性。大塚电子通过其“光"校准业务提供光度学可追溯性，致力于为节能环保照明的推广和发展做出贡献。

*1 JCSS（日本校准服务制度）：《测量法》校准实验室注册制度

；*2 国际MRA（互认协议）：国际互认协议

可接受定制订单

我们通过定制生产来满足多样化的需求！

我们提供种类丰富的配件、可选单元和分析软件。我们运用积累的技术和经验，提供符合行业前沿标准的“ 系统"，并为客户的需求提供有价值的解决方案。

 备配置

薄膜厚度测量系统

应用

◎ 薄膜厚度、涂层厚度、保护膜厚度◎

晶圆、玻璃基板、铝基板上的

薄膜厚度

显微光谱测量系统

应用

◎ 显微镜下微点测量

  （反射、透射、吸收）

◎ 薄膜厚度测量

  （薄膜、各种基材上的薄膜、保护膜）

多点测量系统

应用领域

◎ 抗反射膜反射率测量

◎ 涂层厚度测量

◎ 各种基材上的厚度测量

横移机兼容系统

应用

◎测量减反射膜的厚度和反射率

◎功能膜的质量控制