otsuka大塚电子 RETS-100nx 延迟测量装置
这款延迟测量装置兼容所有类型的薄膜，包括OLED偏光片、层压相位差膜以及带有IPS LCD相位差膜的偏光片。
它可实现高速、高精度测量，并兼容超高Re值（60,000 nm）。
该装置能够“无损地测量"薄膜的层压状态，无需剥离薄膜。
此外，它还配备了易于使用的软件和校正功能，可以处理因重新定位样品而导致的偏差，从而实现简便、高精度的测量。

otsuka大塚电子 RETS-100nx 延迟测量装置

otsuka大塚电子 RETS-100nx 延迟测量装置

这款延迟测量装置兼容所有类型的薄膜，包括OLED偏光片、层压相位差膜以及带有IPS LCD相位差膜的偏光片。

它可实现高速、高精度测量，并兼容超高Re值（60,000 nm）。

该装置能够“无损地测量"薄膜的层压状态，无需剥离薄膜。

此外，它还配备了易于使用的软件和校正功能，可以处理因重新定位样品而导致的偏差，从而实现简便、高精度的测量。

 产品信息

特征

得益于我们独特的光谱仪，可以进行高精度测量。

■ 高精度

通过多波长测量实现高精度

<高精度原因>・采用

独特的高性能多通道光谱仪

・可获得大量透射率信息，从而实现高精度测量

（可获得约 500 个波长的透射率信息，约为其他公司产品的 50 倍）

■ 测量范围宽广（延迟范围：0 至 60,000 nm）

■ 理解延迟波长色散形状

超高延迟测量——超双折射薄膜的高速、高精度测量——

■ 高延迟

多层测量——无需剥离即可无损测量各种薄膜的层压状态——

轴角校正功能 - 即使样品未对准，也能轻松、可重复地进行测量 -

■ 将样品重新定位 10 次，并比较有无角度校正两种情况下的结果。

[样品：R85 缓释膜]

易于使用的软件——显著缩短测量和处理时间，显著提高操作性。

规格

规格

 模型 RETS-100nx 型迟滞测量装置

 测量项目（胶片、光学材料） 延迟（波长色散）、慢轴、Rth *1、三维折射率*1等。

 测量项目（偏光片） 吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透射率等。

 测量项目（液晶盒） 细胞间隙、预倾角*1、扭转角、取向角等。

 延迟测量范围 0 至 60,000 纳米

 延迟重复性 3σ≦0.08nm（晶体波片约600nm）

 电池间隙测量范围 0 至 600μm（当 Δn=0.1 时）

 细胞间隙重复性 3σ≦0.005μm（电池间隙约3μm，Δn=0.1）

 轴检测重复性 3σ≦0.08°（晶体波片，波长约600nm）

 测量波长范围 400至800纳米（另有其他选项）

 探测器 多通道光谱仪

 测量直径 φ2mm（标准规格）

 光源 100瓦卤素灯

 数据处理部分 个人电脑，显示器

 舞台尺寸：标准 100mm x 100mm（固定平台）

 选项 ・超高延迟测量

 ・多层测量

 ・轴角校正功能

 ・自动XY平台

 ・自动倾斜旋转平台

*1 需要自动倾斜和旋转平台（可选）