otsuka大塚电子 MINUK 3D 光波场三维显微镜
特征02可采集1400微米深度范围内的所有信息，并可沿任意高度进行切片。单次测量即可获取相当于
数千张图像的信息。
以往，无法确定目标区域的深度，需要拍摄数千张图像才能找到目标区域。MINUK 可即时测量 700 x 700 μm 区域内、深度方向 1400 μm 范围内的信息。它以约 2 μm 的分辨率采集约 700 张切片图像，这些

otsuka大塚电子 MINUK 3D 光波场三维显微镜

otsuka大塚电子 MINUK 3D 光波场三维显微镜

 光波场三维显微镜

立即更准确地

可视化并量化 您想要看到的内容一种前所未见的独特观察方法！

示例

电影

玻璃

波导

凝胶

细胞

蛋白质聚集体

ETC。

检测目标示例

划痕

填料

空白

细胞形状

核心形状

折射率不均匀性

ETC。

观察项目

门诊部

OPD Edge

明场

边缘

光振幅

微分

ETC。

研讨会

日期：2025年11月19日在线的活动结束网络研讨会【专题研讨会：利用光波场三维显微镜观察培养细胞及其应用】

MINUK的发展理念

传统观念

当你想看某样东西时，你会通过镜头去看它。

充分利用镜头来获取“接近真相"的信息

为了尽可能接近真相，需要 在校正、计算和机制方面取得技术进步。

新思路

看清真相，规划未来。

通过直接获取光信息，

计算并可视化光波的传播方式

建立高速处理技术以捕捉真相

传统显微镜存在的问题

视野范围狭窄，需要时间才能确定异物的位置。

我不知道我想看的区域的深度，所以我必须不断拍摄多张照片来确定它。

无法检测到肉眼不可见的纳米级变化

如果是MINUK！

只需将其放在物体上，即可随时使用非破坏性、非接触式3D 观察技术观察和测量您想要查看的区域，无需

物理聚焦！

当激光照射到物体上时，由于物体厚度和折射率的变化，波前会发生改变。

这种变化会被波前传感器捕捉到，然后使用专用软件进行数值分析，从而重建图像。

用例使用示例

提出只有MINUK才能解决的技术难题

任务1

我们希望准确区分 胶片显影过程中的颗粒和空隙。

颗粒和空隙是可以区分的。

根据 OPD 的大小可以区分颗粒和空隙，这有助于确定缺陷的原因。

任务 2客户要求高质量的产品管理

，因此有必要量化难以识别的划痕。

过程中可能出现不符合项判定。

可以检查划痕的高度、横截面形状和三维形状，从而在过程中进行不合格判断。

任务3

我们想量化 原型形状是否符合设计。

精确量化倾斜形状

提供可靠的数值数据。能够量化薄膜表面的形状。

任务 4观察光纤和波导的纤芯形状

，并量化折射率分布

可进行非接触式门诊观察

无需接触即可轻松进行 OPD 观察，无需花费时间和精力即可优化条件。

任务5我们不仅想量化TGV 的表面，还想量化其内部形状并确定其深层位置。

对任何深度进行无损观测

可以无损地观察玻璃表面到内部和背面的任何深度处的 TGV 形状，使其成为评估加工质量的理想方法。

任务6

我想以非染色、非侵入性的方式 观察 活体生物，例如细胞。

可进行非接触式和非侵入式测量

可以以非接触式和非侵入式的方式测量细胞等生物体的形状变化和高度。这或许能够利用新的指标来评估物体。

特征特征

快速简便地测量透明物体的表面和内部尺寸

特征01由于具有宽广的视场（700 μm）和高分辨率（488 nm），因此无需

在测量对象中寻找异物。

以前，由于视野狭窄，需要绕着物体寻找异物等。然而

，MINUK 直接记录样品光，无需经过成像光学系统，从根本上解决了透镜像差问题，

实现了大深度、宽视野、无像差的成像。

特征02可采集1400微米深度范围内的所有信息，并可沿任意高度进行切片。单次测量即可获取相当于

数千张图像的信息。

以往，无法确定目标区域的深度，需要拍摄数千张图像才能找到目标区域。MINUK 可即时测量 700 x 700 μm 区域内、深度方向 1400 μm 范围内的信息。它以约 2 μm 的分辨率采集约 700 张切片图像，这些信息可以进行数字化重聚焦，从而对三维结构进行进一步验证。

特征03可视化透射率和折射率的三维分布，并量化

不可见的纳米级表面形貌

传统上，聚焦困难，量化也不可能，但 MINUK 可以量化纳米级的表面形状（肉眼不可见），并能检测折射率的微小变化。