产品介绍
进口OTSUKA大塚 SM-100P 薄膜测厚仪
进口OTSUKA大塚 SM-100P 薄膜测厚仪
SM-100系列智能薄膜厚度计
高精度便携式薄膜测厚仪。您在测量薄膜厚度时是否遇到过以下问题 :
“ “测量结果因人而异"或 “测量精度差" ?智能薄膜测厚仪具备以下特点,可解决您的这些问题。
• 便于携带至生产现场的字体
它很简单,任何人都可以使用。
即使使用手持设备,也可以进行高精度测量。
• 即使对于形状固定的样品,也可以进行无损测量。
产品信息
规格
测量目标
选项
产品信息
特征
“便携式"——重量仅1.1公斤,方便携带。
“高精度测量 & 简易测量":无需校准曲线即可测量至 0.1 μm。
“支持多层薄膜":可测量最多 3 层的多层薄膜。
“非破坏性、非接触式测量":测量不会对样品造成损坏。
“可测量各种样品":无论基材(玻璃、塑料等)如何,均可进行测量。
1:一种方便携带到工作现场的类型。
① 小型光谱仪
② 小型白色光源
③ 设备内置计算机:
传统上,分析是在个人电脑上完成的,但是……
分析
展示
手术
现在可以通过触摸面板完成这项操作!
④ 电池供电
⑤ 参考镜
⑥ 可更换探头
优点
现在你可以把它带到以前去不了的地方了!
原因
光谱仪小型化、电池争议等。
场景一:商务旅行目的地
场景二:生产线
场景3:无法移动的物体
2:它很简单,所以任何人都可以使用它。
优点
无需任何专业知识或操作培训!
原因①无需组装;开箱即可使用。
设置状态
原因 ②只需将探针接触样品即可进行测量。
简单的
原因③它可以通过触摸面板进行直观操作。
我需要自行配置的设置很少
!
3:即使使用手持设备,也可以进行高精度测量。
优点
测量精度可达0.1微米。
原因
它采用光谱干涉测量法。
原则测量基材上涂覆的薄膜
从上方入射的光线
会在薄膜表面反射,
穿过薄膜的光线会在衬底或薄膜界面处反射。
此时
测量由光程差引起的相位偏移所造成的
光学干涉现象。
薄膜厚度可根据所获得的反射光谱和折射率确定。
4:形状明确的样品也可以进行无损测量。
优点
① 可测量大尺寸样品
② 可进行无损测量
③ 可测量各种形状的样品
原因
因为这是一种需要使用探针进行测量的方法。
即使它太大,无法在普通台式设备上显示,也没关系。
没必要再提这件事了。
无需用力捏或按。
优点
① 可测量各种形状的样品
② 可测量大型样品
③ 可进行无损测量
原因
可以根据样品更换探针。
探头①:标准探头
用于放置在平面上的样品。
(例如)电影,简单形状
探针②:笔式探针选项
适用于空间狭窄或形状不规则的样品。
(例如)电影,简单形状
探针③:非接触式平台选项
用于存放您不想直接触摸的样品。
(例如)湿膜、半导体晶片
我司代理及优势品牌一览明细:
代理品牌:CCS晰写速SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林时计、NPM日脉
NS日本科学、DRY-CABI东利繁、TOKISANGYO东机
SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt写真化学、NIPPON GEAR日本齿轮
NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 东丽 watson沃森 DIC迪爱生 INNODIS 一诺迪思 ARLIN艾阿尔
优势品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、TAKASAG代理O高砂、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、TORAY东丽、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC
S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野、ANRITSU安立计器
IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣、HEIDON新东科学KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH爱光、SEM坂本电机
SURUGA骏、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、
RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等
优势产品:日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯
变色灯箱、色差仪、卤素光源装置、氧气浓度计、焊接机、应力表面检查仪、LED光源机、电子天平、粘度计、膜厚计、恒流泵、采样泵、PH计、水分计、地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪、接近开关、拉拔机、异音检测仪、应变测试仪、拉针仪、水平测试仪等
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