产品介绍
工业OTSUKA大塚 RETS-100nx 迟滞测量装置
工业OTSUKA大塚 RETS-100nx 迟滞测量装置
RETS-100nx 型迟滞测量装置
这款延迟测量装置兼容所有类型的薄膜,包括OLED偏光片、层压相位差膜以及IPS LCD相位差膜偏光片。
它具有超高的Re值和60000nm分辨率,可实现高速、高精度的测量。
它能够“无损地测量"薄膜的层压状态,无需剥离薄膜。
此外,它还配备了易于使用的软件和校正功能,可补偿因重新定位样品而引起的偏移,从而实现简便而高精度的测量。
产品信息
规格
光学系统
产品信息
特征
我们独特的光谱仪实现了高精度测量。
■ 高精度
通过多波长测量实现高精度
。<高精度原因> -采用
独特的高性能多通道光谱仪。 - 通过获取大量透射率信息 (可获取约 500 个波长的透射率信息,约为其他公司产品的 50 倍),
实现高精度测量。
■ 宽测量范围(延迟范围:0 至 60000 nm)
■ 理解延迟波长色散形状
超高延迟测量——实现超双折射薄膜的高速、高精度测量——
■ 高延迟
多层测量 - 无需剥离即可对各种薄膜的层压状态进行无损测量。
轴角校正功能——即使样品未对准,也能轻松实现可重复的测量——
■ 将样品重新定位10次,并比较有无角度校正两种情况下的结果。
[样品:相差膜R85]
易于使用的软件——显著缩短测量和处理时间,大幅提升易用性。
产品信息
规格
光
规格
规格
模型 RETS-100nx 型迟滞测量装置
测量项目(胶片、光学材料) 延迟(波长色散)、慢轴、Rth * 1、3D折射率*1等。
测量项目(偏光片) 吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透射率等。
测量项目(液晶盒) 细胞间隙、预倾角*1、扭转角、取向角等。
延迟测量范围 0 至 60,000 纳米
延迟重复性 3σ≦0.08nm(晶体波片约600nm)
细胞间隙测量范围 0 至 600 μm(当 Δn = 0.1 时)
细胞间隙重复性 3σ ≤ 0.005 μm(当细胞间隙约为 3 μm 且 Δn = 0.1 时)
轴检测重复性 3σ≦0.08°(晶体波片,波长约600nm)
测量波长范围 400-800nm(另有其他选项)
探测器 多通道光谱仪
测量直径 φ2mm(标准规格)
光源 100瓦卤素灯
数据处理单元 个人电脑,显示器
舞台尺寸:标准 100mm x 100mm(固定平台)
选项 • 超高延迟测量
• 多层测量
• 轴角补偿功能
• 自动XY平台
• 自动倾斜和旋转平台
*1 需要自动倾斜和旋转平台(可选)。
我司代理及优势品牌一览明细:
代理品牌:CCS晰写速SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林时计、NPM日脉
NS日本科学、DRY-CABI东利繁、TOKISANGYO东机
SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt写真化学、NIPPON GEAR日本齿轮
NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 东丽 watson沃森 DIC迪爱生 INNODIS 一诺迪思 ARLIN艾阿尔
优势品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、TAKASAG代理O高砂、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、TORAY东丽、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC
S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野、ANRITSU安立计器
IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣、HEIDON新东科学KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH爱光、SEM坂本电机
SURUGA骏、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、
RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等
优势产品:日本紫外线照度计、紫外线装置灯管、LED视觉光源、表面检查灯、手持检测灯
变色灯箱、色差仪、卤素光源装置、氧气浓度计、焊接机、应力表面检查仪、LED光源机、电子天平、粘度计、膜厚计、恒流泵、采样泵、PH计、水分计、地震测试仪、脱泡搅拌机、压力传感器、气体检测仪、接近开关、拉拔机、异音检测仪、应变测试仪、拉针仪、水平测试仪等
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0755-28282893

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