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  • 全新精选OTSUKA大塚 SF-3/300 光谱干涉厚度计
    全新精选OTSUKA大塚 SF-3/300 光谱干涉厚度计

    精选OTSUKA大塚 SF-3/300 光谱干涉厚度计 【ELSZneo将光散射法在物理性质评估领域     推向新高度】 ELSZ系列中的顶级型号ELSZneo,除了能够测量稀溶液到浓溶液中的zeta电位和粒径外,还能测量分子量

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    产品型号:

    全新

    更新时间:

    2026-06-30

    厂商性质:

    代理商

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  • 原厂供货OTSUKA大塚 SF-3/200 光谱干涉厚度计
    原厂供货OTSUKA大塚 SF-3/200 光谱干涉厚度计

    供货OTSUKA大塚 SF-3/200 光谱干涉厚度计 【ELSZneo将光散射法在物理性质评估领域     推向新高度】 ELSZ系列中的顶级型号ELSZneo,除了能够测量稀溶液到浓溶液中的zeta电位和粒径外,还能测量分子量

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    产品型号:

    原厂

    更新时间:

    2026-06-30

    厂商性质:

    代理商

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  • 山金工业OTSUKA大塚 FE-5000 红外光谱椭偏仪
    山金工业OTSUKA大塚 FE-5000 红外光谱椭偏仪

    工业OTSUKA大塚 FE-5000 红外光谱椭偏仪 【ELSZneo将光散射法在物理性质评估领域     推向新高度】 ELSZ系列中的顶级型号ELSZneo,除了能够测量稀溶液到浓溶液中的zeta电位和粒径外,还能测量分子量

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    产品型号:

    山金

    更新时间:

    2026-06-30

    厂商性质:

    代理商

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  • 精选供货OTSUKA大塚 SM-100S 薄膜测厚仪
    精选供货OTSUKA大塚 SM-100S 薄膜测厚仪

    供货OTSUKA大塚 SM-100S 薄膜测厚仪 【ELSZneo将光散射法在物理性质评估领域     推向新高度】 ELSZ系列中的顶级型号ELSZneo,除了能够测量稀溶液到浓溶液中的zeta电位和粒径外,还能测量分子量

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    产品型号:

    精选

    更新时间:

    2026-06-30

    厂商性质:

    代理商

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  • 全新进口OTSUKA大塚 SM-100P 薄膜测厚仪
    全新进口OTSUKA大塚 SM-100P 薄膜测厚仪

    进口OTSUKA大塚 SM-100P 薄膜测厚仪 【ELSZneo将光散射法在物理性质评估领域     推向新高度】 ELSZ系列中的顶级型号ELSZneo,除了能够测量稀溶液到浓溶液中的zeta电位和粒径外,还能测量分子量

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    产品型号:

    全新

    更新时间:

    2026-06-30

    厂商性质:

    代理商

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    57

  • 精密仪器OTSUKA大塚 薄膜厚度监测仪 FE-300F
    精密仪器OTSUKA大塚 薄膜厚度监测仪 FE-300F

    仪器OTSUKA大塚 薄膜厚度监测仪 FE-300F 【ELSZneo将光散射法在物理性质评估领域     推向新高度】 ELSZ系列中的顶级型号ELSZneo,除了能够测量稀溶液到浓溶液中的zeta电位和粒径外,还能测量分子量

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    产品型号:

    精密

    更新时间:

    2026-06-30

    厂商性质:

    代理商

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