BRUKER布鲁克 Dimension FastScan 显微镜
原子力显微镜 ( AFM ) 系统为科学、技术和工业领域的纳米级研究人员提供了 的性能、功能和生产力。
最新的Dimension系统基于全球应用 泛的大样品AFM平台，是一款行业 的系统，它是基于数十年的技术创新和客户反馈而开发的。
该系统旨在提供创新的低漂移和低噪声性能，使用户能够在几分钟内（而非几小时）获得无伪影图像

BRUKER布鲁克 Dimension FastScan 显微镜

BRUKER布鲁克 Dimension FastScan 显微镜

大型原子力显微镜平台

维度系列

布鲁克公司的Dimension Icon®原子力显微镜 ( AFM ) 系统为科学、技术和工业领域的纳米级研究人员提供了 的性能、功能和生产力。

最新的Dimension系统基于全球应用 泛的大样品AFM平台，是一款行业 的系统，它是基于数十年的技术创新和客户反馈而开发的。

该系统旨在提供创新的低漂移和低噪声性能，使用户能够在几分钟内（而非几小时）获得无伪影图像。Dimension Icon采用专有的ScanAsyst®自动图像优化技术，无论用户技能水平如何，都能提供更轻松、更快速、更一致的结果。它使AFM研究比以往任何时候都更容易实现，并显著提高工作效率。

扫描仪（芯片扫描法）

Icon扫描头（第五代）

我们独特的闭环传感器设计

实现了与开环传感器相当的低噪声水平，这是以前大样品/芯片扫描原子力显微镜系统无法实现的。

由于噪声基底显著降低，

接触模式下可实现原子级成像，轻敲模式下可实现亚 30 皮米级成像。

高分辨率相机和XY定位技术能够实现更快、更高效的样品导航。

它支持各种先进的可选模块，包括机械性能评估、电性能评估和扫描电化学显微镜，从而扩展了研究的可能性。

快速扫描头

通过最大限度地减少闭环扫描仪的漂移，我们实现了低于 40 pm 的极低垂直噪声水平。

可以以 125Hz 或更高的频率获取高速测量图像，以及以 20Hz 的敲击模式和 PeakForceTapping Hz 获取高速、高质量的图像。

它配备了自动激光对准功能，使操作更加便捷。

控制器

借助NanoScope V控制器， Dimension Icon可以同时显示和采集多达八幅图像，其信噪比在专为大尺寸样品设计的芯片扫描原子力显微镜中前所未见。这款第五代控制器可同时提供高速数据采集和8通道高像素密度成像 ( 5120 x 5120 )，从而能够在传统原子力显微镜无法企及的时间尺度上记录和分析纳米级芯片-样品相互作用。

软件

NanoScope是我们自主研发的软件，它能够全面控制所有原子力显微镜（AFM）操作，并具有出色的扩展性。用户只需按照步骤操作，即可轻松完成从准备到测量的整个过程，无需任何复杂的步骤。此外，NanoScope分析软件还能无缝执行图像校正、滤波和参数分析，这些功能均针对AFM进行了专门优化。

产品线

维度系列产品对比表

研究型原子力显微镜Dimension XR

Dimension XR： 用于 研究的原子力显微镜 (AFM)

凭借数十年的研发经验和技术创新，Extreme Research (XR) SPM 系列产品在纳米尺度研究领域实现了性能、功能和扩展性的 。作为 FastScan® 和 Icon® AFM 平台的最新型号，它为纳米力学、纳米电学和纳米电化学性质的前沿研究提供了独特的解决方案。此外，它还能以前所 的便捷方式，在空气、液体以及电化学反应环境中对材料和活性纳米系统进行定量分析。

Dimension XR纳米力学力学         性能评估软件包

Dimension XR 纳米 电学特性表征软件包

Dimension XR纳米电化学 扫描电化学显微镜套装

工业模型 AFM Dimension HPI / Dimension Pro

HPI 尺寸： 用于工业应用的原子力显微镜 (AFM)

Dimension®系列原子力显微镜（AFM）以其 速度和性能赢得了良好的声誉，并在工业测量应用领域拥有悠久的历史。Dimension HPI和PRO系统专为大规模生产环境而设计，可在多种AFM模式下实现自动化测量，同时为质量控制、质量保证和故障分析提供 的易用性和操作性。借助接触式、轻敲式和PeakForceTapping®模式技术，用户可以精确控制探针与样品之间的相互作用，即使经过数千次重复测量也能获得准确的结果，并保持探针的使用寿命。

维度专业版

Dimension Pro 系列可 兼容 200mm/300mm 晶圆，并允许您在 Icon/FastScan 扫描头或同时使用两种扫描头之间进行选择。随附的 AutoMet 软件支持一键测量多个预设点。

标准型高速高分辨率原子力显微镜 Dimension FastScan

高速、高分辨率原子力显微镜 (AFM)

Dimension FastScan

这是 在不牺牲分辨率或力控制的前提下实现 成像速度的原子力显微镜 (AFM)。它基于 Dimension Icon® AFM 系统，采用芯片扫描方法，突破了样品尺寸和重量的限制，无论样品直径大小，均可轻松应对。由于它能够在空气和液体中进行测量，因此只需一套系统即可获得高性能 AFM 才能实现的高分辨率图像。在寻找样品上的测量点时，测量速度可超过 125 Hz，无论样品处于空气还是液体中，均可在数秒内完成一幅图像的采集。

该型号同时包含 FastScan 和 Icon 扫描头。

标准型高性能原子力显微镜（适用于大样品）尺寸图标

用于大尺寸样品的高性能原子力显微镜 (AFM)

尺寸图标

这款原子力显微镜（AFM）远超传统产品，满足大样品测量、高分辨率、易操作性、多功能性和可扩展性等所有需求。它配备了超低噪声、低漂移的闭环扫描器。此外，这款突破性的AFM可搭载ScanAsyst功能，利用全新的PeakForce Tapping技术和PeakForce QNM定量力学性能映射功能，实现一键式操作。

标准台式原子力显微镜，兼容大样品，Dimension Nexus NEW

大型样品台式原子力显微镜 (AFM)

Dimension Nexus

这款原子力显微镜（AFM）专为大尺寸样品而设计，配备高性能闭环扫描器。它搭载了新一代NanoScope® 6控制器，在保持极其紧凑的外形尺寸的同时，实现了高度可操作性和大尺寸样品兼容性。与之前的型号相比，这使我们能够以更具吸引力的价格提供这款大尺寸原子力显微镜。它拥有 的基本性能和 的性价比。