BRUKER布鲁克 干涉显微镜 Contour X-500
原子力显微镜 ( AFM ) 系统为科学、技术和工业领域的纳米级研究人员提供了 的性能、功能和生产力。
最新的Dimension系统基于全球应用 泛的大样品AFM平台，是一款行业 的系统，它是基于数十年的技术创新和客户反馈而开发的。
该系统旨在提供创新的低漂移和低噪声性能，使用户能够在几分钟内（而非几小时）获得无伪影图像

BRUKER布鲁克 干涉显微镜 Contour X-500 

BRUKER布鲁克 干涉显微镜 Contour X-500 

入门级台式白光干涉显微镜 ContourX-100

ContourX-100 是一款精简型设备，融合了布鲁克数十年来在创新型白光干涉测量 (WLI) 技术方面的专业经验，可提供毫不妥协的 2D/3D 高分辨率测量能力。这款配备量规的台式系统拥有直观易用的界面，可轻松访问丰富的预设滤波和分析功能库，适用于精密加工表面、厚膜、摩擦学应用等多种应用，从而快速提供高精度测量数据。

灵活的表面纹理测量功能：台式白光干涉显微镜 ContourX-200

ContourX-200 光学轮廓仪是一款 的高速、高精度、可重复性高的非接触式三维表面轮廓测量系统， 融合了先进的表征功能、可定制选项和易用性。这款紧凑型系统配备了测量仪，具有宽广的测量范围、500万像素数码相机和新型电动XY平台，可实现高分辨率的二维/三维测量。ContourX-200 由业界 的操作和分析软件 Vision64 提供支持。

台式白光干涉显微镜 Contour X-500，具备自动化功能。

ContourX-500 光学轮廓仪是 的自动化台式系统，可实现高速、非接触式三维表面轮廓测量。该系统配备布鲁克专有的倾斜/俯仰光学头，能够从各种角度进行 可编程的表面轮廓测量，同时 限度地减少跟踪误差。ContourX-500 内置量规，具 高的 Z 轴分辨率和精度，在节省空间、结构紧凑的机身中，具备布鲁克白光干涉 (WLI) 立式轮廓仪的所有优势。

TTM

力学性能评价

PEEForce QNM

相位，摩擦

力谱学

力调节

纳米压痕

力体积

接触共振映射

AFM纳米DMA

纳米光刻与纳米操控

进入模式

电气特性评估

Liftmode 和 Darklift

EFM

KPFM（AM 和 FM），Peakforce KPFM

C-AFM 和DCUBE-CAFM

TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA

PFM、DCUBE-PFM、DCUBE-CR-PFM和SS-PFM

供应链管理与DCUBE-SCM

SSRM 和DCUBE-SSRM

sMIM 和Peakforce sMIM和DCUBE-SMIM

MFM 和扭转共振 MFM

除此处列出的型号外，我们还提供其他模式和配件组合。详情请联系我们。

纳米红外光谱和原子力显微镜是两种成熟的技术，它们被集成到一个系统中。

IconIR 的特点

光谱性能与 FTIR 光谱相关

具有 10 nm 空间分辨率的化学成像

表面灵敏度高，甚至可以检测单层薄膜

的形状属性相关显微镜，得益于其独特的 PeakForce 敲击模式。

大型 AFM（空气功能微站）类别中性能的平台

多种测量模式和丰富的配件。

布鲁克不断发展的纳米红外技术

应用领域

聚合物材料

薄膜

半导体和电子材料

二维材料与等离子体激元学

其他的

环境科学

药店

太阳能电池

文化遗产

纳米红外光谱与傅里叶变换红外光谱相关，使数据库分析更容易。

实现了空间分辨率<10nm的化学成像和单层灵敏度。

通过对纳米尺度特征的关联观察进行多方面性能评估

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✉ 产品咨询及问询

下一代纳米级红外光谱系统集成原子力显微镜 Dimension IconIR

备受期待的新一代纳米级红外光谱系统

——Dimension IconIR New

布鲁克的原子力显微镜Dimension Icon，无论在国内还是国际市场，都是安装量的产品。

如今，它终于将布鲁克的多项专有技术（例如PeakForce Tapping技术）与纳米红外光谱技术相结合。除了其成熟的机械和电学性能分析技术外，现在还可以在同一系统上进行纳米级红外光谱分析。

产品咨询与咨询

nanoIR3 光谱（纳米尺度红外光谱系统 AFM-IR）

无模型红外光谱分析

Anasys nanoIR3

这款高分辨率多功能测量系统集成了原子力显微镜 (AFM)、脉冲可调谐激光器和热探针，可实现亚10纳米空间分辨率范围内的红外光谱局部分析、红外吸收图谱、AFM图像、表面硬度图像和热分析。其特点包括： • 采用波数

与傅里叶变换红外光谱 (FT-IR) 高度相关的

量子级联激光器/光参量振荡器 (QCL/OPO) ，并针对特定应用的光谱分析进行定制。

• FASTSpectra 技术不仅可以获得点光谱，还可以实现高速全光谱

成像

。• 与之前的微型傅里叶变换红外光谱 (micro-FT-IR) 系统相比，分辨率显著提高。

• 新型轻敲式原子力显微镜 (Tapping AFM) 可提供分辨率为10纳米的化学成像。

扫描近场光学显微镜 (S-SNOM

) Anasys nanoIR3-s

该系统具备与 nanoIR3 相同的规格，并新增了散射近场光学显微镜 (s-SNOM) 功能。它能够以 10nm 或更低的空间分辨率进行光学特性成像，是分析石墨烯、二维材料和纳米天线等无机材料的理想解决方案。该系统与原子力显微镜-红外光谱仪 (AFM-IR) 的集成使其应用范围广泛，涵盖有机和无机分析。主要特点

包括：• 除 AFM-IR 外，还具备 s-SNOM 功能

• 提供与 AFM-IR 相同 10nm 分辨率的 s-SNOM 图像

• 适用于无机和半导体应用

扫描近场光学显微镜（S-SNOM 宽带） 新型Anasys nanoIR3-s 宽带

布鲁克 nanoIR3-s Broadband 是一款基于散射型近场光学显微镜 (s-SNOM) 技术的先进纳米级傅里叶变换红外光谱系统，利用宽带红外光 (670–4,000 cm⁻¹) 提供业界的高分辨率纳米化学和纳米光学成像。其主要特点包括：

宽带红外光谱测量和高分辨率纳米化学成像；

针对二维/石墨烯材料的高质量光谱测量和成像；

纳米级材料特性映射技术以及多种样品环境控制选项。