SANKO山高 SL-120C 模拟涂层测厚仪 SWT-7000IV. 新增功能 可互换探头。简单的测量方法和简单的键布局

SANKO山高 SL-5P 电磁薄膜测厚仪 特征 它专为测量难以触及表面（例如细管和弯头的内侧、底部和底部）的涂层而设计。 它采用独特的探头结构，配备一根小巧的双极测量杆和一个细长的导向杆。

SANKO山高 SL-200E 双电极式涂层测厚仪 SWT-7000IV. 新增功能 可互换探头。简单的测量方法和简单的键布局

SANKO山高 TL-50 小型模拟涂层测厚仪 SWT-7000IV. 新增功能 可互换探头。简单的测量方法和简单的键布局

SANKO山高 SM-Pen 笔式模拟薄膜厚度计 SWT-7000IV. 新增功能 可互换探头。简单的测量方法和简单的键布局

SANKO山高 SWT-NEO-FN 台式涂层测厚仪 SWT-7000IV. 新增功能 可互换探头。简单的测量方法和简单的键布局

SANKO山高 SWT-NEOⅢ 薄膜涂层厚度计 双型薄膜厚度计 高性能型号，具备探头兼容性、内存、统计计算、数据传输等功能。 *专用探头需另行购买。（探头与SWT-9000系列及更早型号不兼容。）

SANKO山高 SWT-NEOⅡ 涂层测厚仪 双型薄膜厚度计 高性能型号，具备探头兼容性、内存、统计计算、数据传输等功能。 *专用探头需另行购买。（探头与SWT-9000系列及更早型号不兼容。）

SANKO山高 SWT-N232C 双型薄膜厚度计 SWT-7000IV. 新增功能 可互换探头。简单的测量方法和简单的键布局

SANKO山高 Micro Checker KS1 针孔检测器 Micro Checker KS1 湿式针孔检测器 湿式针孔检测器