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SANKO山高 SL-5P 电磁薄膜测厚仪 特征 它专为测量难以触及表面(例如细管和弯头的内侧、底部和底部)的涂层而设计。 它采用独特的探头结构,配备一根小巧的双极测量杆和一个细长的导向杆。
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