AEMIC爱美克 AE-365E 芯片电容电阻器
AE-365E 超高速，适用于微量至大量 MLCC 测试。
适用于 芯片电容器、MELF电容器、径向电容器和
轴向电容器的卷带机。

AEMIC爱美克 AE-365E 芯片电容电阻器

AEMIC爱美克 AE-365E 芯片电容电阻器

 超高速：1毫秒。[典型值]（测量时间）

通过在 5V 电压下使用 2pF/20pF 量程进行测量，可以大大提高微小电容的稳定性。

异常测量检测功能即使在 2 端（4 端）测量期间也能检测出探头接触不良的情况。

4 端子触点检查：可在测量/关闭后选择。

测量频率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波形）

可在串联等效电路和并联等效电路之间切换。

恒压测量（某些量程不支持）

可以测量tanδ（不支持2pF范围）。

3 1/2 位（1999 年）数字显示，内置比较器功能，HI/GO/LO 输出。

RS-232C 接口和打印机输出（符合 Centronics 标准）是标准功能（GP-IB 是可选的）。

为了减少探针接触磨损，测量电流是间歇施加的[120μF/1.2mF 范围]。

即使在测量过程中，打印机也会输出测量值、统计数据、日期和时间等数值。

测量范围和基本精度（D < 0.1，环境温度 23°C ± 5°C）

测量范围测量范围 分辨率准确性测量电压

2pF0.000pF 至 1.999pF0.001pFrdg ±1.0% ±5digitxa1kHz，1V±5%[rms]1kHz，5V±5V% [rms]

20pF0.00pF 至 19.99pF0.01pF读数的±0.25% ±3位数 xa

200pF0.0pF 至 199.9pF0.1pF读数的±0.2% ±2 位 x a——

2nF0.000nF 至 1.999nF0.001nF读数的±0.2% ±2个字——

20nF0.00nF 至 19.99nF0.01nF——

200nF0.0nF 至 199.9nF0.1nF——

2μF0.000μF 至 1.999μF0.001μF120Hz，0.5V±5% [rms]

20μF0.00μF 至 19.99μF0.01μFrdg ±0.3% ±3digitxa

120μF0.0μF 至 119.9μF0.1μFrdg ±1.0% ±5digitxa1kHz，1V +5% 至 -15% [rms]——

200μF0.0μF 至 199.9μF0.1μFrdg ±0.5% ±3digitxa——120Hz，0.5V±5% [rms]

1.2毫法0.000mF 至 1.199mF0.001毫法rdg ±1.5% ±5digitxa——120Hz，0.5V+5% ~ 5% ~ -25% [rms]

*0.1

测量方法3/5 端子测量方法 [每个量程可选]

测量频率120Hz/1kHz±0.1%，正弦波形

测量信号输出kinbeat约 1Ω

杂散电容校正范围约30pF

全尺寸和零温度系数在±100 ppm/℃范围内

测量温度【自由运行循环】快：约 1-5 次/秒

慢：快 x N（N：平均设定次数）

[测量期间信号[快速]] 1毫秒。[最快速度]

比较器设置范围电容：高电平和低电平均为 1999 [在 120μF/1.2mF 范围内，高电平和低电平均为 1199] tanσ：99.9%

使用环境温度：0°C 至 +50°C，湿度：85% 或以下

所需功率交流85V至265V，50至60Hz，约50VA

外部尺寸333（宽）×99（高）×300（深）毫米（不含橡胶脚垫等突出部分。）

重量约4公斤

AE-365E 主体[RS-232C 标准]

选项GP-IB[如果选择 GP-IB，则无法安装 RS-232C。]

*由于产品改进，规格如有变更恕不另行通知。