AEMIC爱美克 AE-162D 电阻测试仪
AE-162D 超高速芯片电阻测试仪
适用于 D、F、G、J、K 级、片式、MELF、
径向和轴向电阻器的分拣和卷带机。

AEMIC爱美克 AE-162D 电阻测试仪

AEMIC爱美克 AE-162D 电阻测试仪

 模拟到数字部分的隔离提高了抗噪声能力，并提供了高稳定性。

支持超小型芯片（低功耗测量）

超快 0.7 毫秒（典型值）

通过热电功率抵消测量实现高精度和稳定性。

通过设置每个量程的测量值积分时间的功能，实现了超快速且高度稳定的测量。

测量精度：±99.99% [5mΩ 至 109MΩ]

绝对测量范围：0.00 mΩ 至 200.00 MΩ

接触检查：可选择测量前/测量后/关闭

RS-232C 接口为标准配置（GP-IB 为可选配置）。

打印机输出功能为标准配置（符合 Centronics 标准）。

标准功能：设置值传输功能（允许您将相同的设置数据传输到另一台 AE-162D 并启用自动设置）。

标准设备包括电流/电压测量异常检测电路。

测量范围和基本精度（环境温度 23℃±5℃），校准后 180 天 [校准后 1 年：1.5 倍]

测量范围标准值设置范围测量电流测量精度*

慢的快速地

100mΩ5mΩ 至 100mΩ100毫安在±0.02%±2a±2d范围内在±0.03%±3a±2d±[2/(1+n)]d范围内

1Ω100.1mΩ 至 1Ω100毫安在±0.02%±a±1天以内在±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d范围内

10Ω1.001Ω 至 10Ω50毫安

100Ω10.01Ω 至 100Ω10毫安在±0.02%±1天以内在±0.02%±2d±[1/(1+n)]d范围内

1kΩ100.1Ω 至 1kΩ5mA

10kΩ1.001kΩ 至 10kΩ0.5mA

100kΩ10.01kΩ 至 100kΩ50 μA

1MΩ100.1kΩ 至 1MΩ5 μA在±0.05%±2d±[1/(1+n)]d范围内

10MΩ1.001 MΩ 至 10 MΩ0.5 μA在±0.03%±1天以内±0.2%±4d±[1/(1+n)]d以内

100MΩ10.01 MΩ 至 109 MΩ0.05 μA在±0.1%±2天以内───

* d = 数字位数，n = 积分时间（毫秒），测量百分比时：α = (100 / 标准设定值 mΩ) × 0.01%，测量绝对值时：α = 0（加 ±1d）

 屏蔽状态下的精度

测量时间外部启动自由奔跑

慢的快速地慢的快速地

大约 18 毫秒至 400 毫秒。大约 0.7 毫秒至 400 毫秒。大约每秒 30 次到

大约每秒 2 次大约每秒 60 次到

大约每秒 2 次

测量端的开路电压15伏或更低

测量结束信号 (EOC) 脉冲宽度1 至 250 毫秒，可连续设置。

测量方法可在四端测量和两端测量之间切换。

判断值设定范围百分比测量范围：±99.99%，绝对值测量范围：00000 至 20000

使用环境温度：0°C 至 +50°C，湿度：80% 或以下

所需功率交流85V至265V，50Hz至60Hz，约50VA

外部尺寸333（宽）× 99（高）× 300（深）毫米（不含橡胶脚垫等突出部分）

重量约3.5公斤

选项GP-IB

数据传输线

• 短路终端（零欧姆标准电阻）

• 转换适配器（3针 x 2 ⇒ 5针）

*由于产品改进，规格如有变更恕不另行通知。