otsuka大塚电子 SM-100P 智能涂层测厚仪　
测量目标
　・光学薄膜
　・涂层薄膜
（防反射薄膜、粘合层等）
　・半导体
（氧化膜、光刻胶膜等）
　・各种薄膜
（食品薄膜、医用薄膜、建筑材料薄膜等）

otsuka大塚电子 SM-100P 智能涂层测厚仪　

otsuka大塚电子 SM-100P 智能涂层测厚仪　

高精度便携式薄膜测厚仪

“

我想测的时候不能立即测量"、

“测量结果因人而异"、

“测量精度差"

您在测量薄膜厚度时是否遇到过这些问题？这款智能薄膜测厚仪具备以下特点，可以解决您的问题。

・便于携带至生产现场

・它很简单，任何人都可以使用。

・即使是手持式也能进行高精度测量

・形状不规则的样品也可以进行无损测量

 规格

规格

　物品专业版标准

　模型SM-100PSM-100S

　测量方法反射光谱法（光学干涉法）

　测量薄膜厚度范围*10.1 至 100 微米（单层）

　1 至 100 微米（多层）1至50微米（单层）

　多层支撑最多 3 层1层

　测量重复性2.1σ 0.01μm（氧化硅薄膜 1μm）

　测量点直径直径 1 毫米或更小

　数据输出格式以文本格式导出到U盘

　体型尺寸约为 138（宽）x 198（深）x 61（高）毫米

（含凸起部分）

　重量约1.1公斤

　运行时间超过 4 小时（测量期间）

　电源电压/功率AC100-240V/35VA（交流适配器输入）

　保护等级IP30/IK06

*1 当样品折射率为 1.6 时

 测量目标

测量目标

　・光学薄膜

　・涂层薄膜

     （防反射薄膜、粘合层等）

　・半导体

      （氧化膜、光刻胶膜等）

　・各种薄膜

     （食品薄膜、医用薄膜、建筑材料薄膜等）