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更新时间：2025-05-22 
浏览次数：101卡尔蔡司ZEISS新品发布sigma360 FESEM场发射扫描电子显微镜
卡尔蔡司ZEISS新品发布sigma360 FESEM场发射扫描电子显微镜
2025年5月22日近期我司推出了卡尔蔡司ZEISS新品发布sigma360 FESEM场发射扫描电子显微镜 ZEISS Sigma 系列将场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 技术与 的用户体验相结合。结构化成像和分析程序可提高生产率，并可用于研究新材料、质量控制的颗粒样本、生物和地质样本等。即使在低于 1 kV 的低加速电压下，不妥协的高分辨率成像也能实现高分辨率和对比度。此外，您可以使用 的 EDS 几何结构执行高级显微镜分析，以两倍的速度获得更准确的分析数据。
产品蔡司适马实现高质量成像和高级分析的场发射SEM
ZEISS Sigma 系列将场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 技术与 的用户体验相结合。结构化成像和分析程序可提高生产率，并可用于研究新材料、质量控制的颗粒样本、生物和地质样本等。即使在低于 1 kV 的低加速电压下，不妥协的高分辨率成像也能实现高分辨率和对比度。此外，您可以使用 的 EDS 几何结构执行高级显微镜分析，以两倍的速度获得更准确的分析数据。
Sigma 系列为先进的纳米分析打开了大门。
Sigma 360 因其直观的成像和分析能力而成为核心成像设施的 场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM)。
Sigma 560 提供 的 EDS 几何结构，可用于高通量分析，并可实现原位实验的自动化。
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Sigma 360
核心设施选择的直观成像
体验直观的成像工作流程，从设置到 AI 驱动的结果都有专门的指导操作。
即使在 1 kV 以下也能实现出色的分辨率和最佳对比度
即使在 挑战性的非导电材料条件下，VP 成像也能获得出色的结果
图片说明：在 NanoVP Lite 模式下对聚苯乙烯进行成像。
Sigma 560
原位实验的高通量分析和自动化
有效分析真实世界的样本。实现快速且多功能的基于 SEM 的分析。
自动化现场实验：实现 集成的实验室进行无人值守测试。
支持 1 kV 以下难以成像的样本。可以收集全面的样本信息。
技术
带有光束增强器、Inlens 探测器和 Gemini 物镜的 Gemini 光学柱的横截面。
双子座1号光学系统
Gemini 1 光学系统由三个元素组成：物镜、光束增强器和 Inlens 检测概念。物镜设计结合了静电场和磁场，以最大限度地提高光学性能，同时最大限度地减少磁场对样品的影响。即使对于磁性材料等具有挑战性的样品，也可以实现出色的成像。 Inlens 的概念是检测二次电子 (SE) 和背散射电子 (BSE)，以实现高效的信号检测，同时最大限度地延长成像时间。光束增强技术确保探头尺寸小且信噪比高。
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