原装 KANAUE可成应材 短波红外相机
MV-XGL162M 线阵工业相机专为高速大面积检测设计，具备16K 解析度与CMOS TDI 感测器，提供高行频与优异讯噪比，适合AOI 精密检查应用。

原装 KANAUE可成应材 短波红外相机

原装 KANAUE可成应材 短波红外相机 

【產品摘要】短波紅外相機 ARTCAM-992SWIR/993SWIR系列｜InGaAs SWIR半導體檢測相機

短波紅外相機 ARTCAM-992SWIR（5.24M像素）與 ARTCAM-993SWIR（3.14M像素）為 ARTRAY 99xSWIR 系列，採用 InGaAs 感測器，涵蓋 400-1700nm 寬廣波長範圍，支援 USB3.0/Camera Link 介面，TEC 冷卻設計適合長時間高精度檢測。992SWIR 提供超高解析度，993SWIR 強調高速幀率，雙系列滿足不同 SWIR 應用需求。

規格項目ARTCAM-992SWIRARTCAM-993SWIR

解析度2560×2048 (5.24M)2048×1536 (3.14M)

畫素尺寸3.45×3.45μm3.45×3.45μm

幀率(8bit)64fps94fps

波長範圍400-1700nm400-1700nm

介面USB3.0 / Camera LinkUSB3.0 / Camera Link

冷卻TEC (PELTIER)TEC (PELTIER)

【關鍵優勢】

寬廣 SWIR 波段：400-1700nm 全域覆蓋，可透視矽晶圓內部缺陷

雙規格選擇：992 高解析度細節檢測，993 高速連拍動態監測

TEC 主動冷卻：長時間運作暗電流低，影像穩定性佳

多介面支援：USB3.0即插即用 + Camera Link 工業整合

豐富 SDK：支援 HALCON、VisionPro、多家機器視覺軟體

【典型應用】

矽晶圓內部缺陷檢測

面板異物・裂痕檢查

農業品質分選

塑膠異物檢測

藥品偽造品鑑定

隱形墨水檢測

【選型重點】如何挑選 ARTCAM-992SWIR 或 993SWIR？

解析度 vs 速度需求：靜態細節選 992SWIR，高速動態選 993SWIR

檢測波長範圍：確認目標透視需求是否在 400-1700nm 內

系統整合介面：USB3.0 開發快速，Camera Link 工業穩定

運作環境溫度：TEC 冷卻適合長時間高溫環境

✅ 顧問建議：提供「檢測對象材質與厚度 / 預期解析度與速度 / 現有系統介面 / 運作環境溫度」，我們可協助選擇最適 SWIR 相機型號與鏡頭搭配。

【常見問題 FAQ】

Q1：SWIR 相機與可見光相機差異？

A：SWIR(短波紅外)可透視矽晶圓、塑膠等材料內部，檢測可見光無法看見的隱藏缺陷，波長 400-1700nm 覆蓋可見光到近紅外全域。

Q2：992SWIR 與 993SWIR 該選哪款？

A：需要最高細節解析度選 992(5.24M像素)，需要更高幀率高速檢測選 993(94fps)，兩者畫素尺寸相同，視應用需求選擇。

Q3：需要什麼鏡頭搭配 SWIR 相機？

A：需 SWIR 塗層特殊鏡頭(C-Mount)，一般可見光鏡頭無法透過 SWIR 波段，建議搭配 SWIR 專用定焦或變焦鏡頭。

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