产品介绍
原装 KOSAKA小坂 表面粗糙度测量仪
原装 KOSAKA小坂 表面粗糙度测量仪
山金工业代理的日本KOSAKA小坂表面粗糙度测量仪,是精密接触式表面计量领域的 级产品,覆盖从现场便携检测到实验室高精度分析的全场景需求,核心型号及参数如下:
Smart Surf 一体化便携式粗糙度仪
整机仅0.5kg,掌心大小无分离线缆,支持现场巡检
最小适配φ6mm内径、最大测深61mm,深孔窄槽无检测盲区
Z轴三档量程400μm/100μm/10μm,对应分辨率50nm/10nm/5nm
支持80余种粗糙度参数,兼容ISO、JIS、DIN、ASME四大国际标准
SE500 高精度台式粗糙度测定机
纵向测量范围800μm,分辨率高达0.08nm,55mm测量长度内真直度精度≤0.3μm
搭载彩色触控大屏,支持60+项粗糙度评价参数,驱动速度0.05~2.0mm/s可调
标配R2μm金刚石触针,测力0.75mN,适配半导体、汽车零部件高精度质检场景
PU-FG25 粗糙度轮廓一体机
Z轴行程600μm,垂直分辨率7.5nm,X轴扫描长度100mm
测量力10~30mN无级调节,可追踪上坡77°、下坡87°陡峭斜面
内置防碰撞保护机制,标配原厂防震铝制收纳箱,适配模具型腔、光学镜片检测
测量和分析单元现在都实现了无线连接!
这款高度便携的设备非常适合现场使用,方便用户轻松到达测量位置。
Wi-Fi 连接意味着无需线缆。
告别连接和断开线缆的麻烦!
高密度电池
充满电后可进行 2000 次测量。全天无需电源!
通过可见的 LED
显示触控笔的位置,减少缺陷!
我们保证直线度精度为 0.5µm/25mm,
确保阶梯、波纹和曲率测量的可靠性。
测量参数
JIS (2013/94/82)、DIN、ISO、ASME
测量范围
Z轴:800微米
最大测量长度
X:25毫米
探测器
PU-A6,可更换式触控笔,标准触控笔:R2μm 60°
记录波形
截面曲线、粗糙度曲线、滤波波起伏曲线、滤波波中心线起伏曲线、滚动圆中心线起伏曲线、特殊粗糙度曲线
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全新! SE500pro系列
从测量仪器到检测仪器!这款现场使用设备采用红蓝双色显示屏,以直观的方式显示合格/不合格结果。
人人都能轻松一键测量。
通过/不通过结果可以直观地理解。
ProKey 系统允许自由布局每个命令。
便携式平板电脑能够实现质量保证与现场之间的实时分析。
测量参数
JIS (2013/94/82)、DIN、ISO、ASME
测量范围/分辨率
Z:800 μm/0.04 nm
最大测量长度
X:55毫米
探测器
PU-A4,可更换笔尖,标准笔尖:R2μm 60°
记录波形
截面曲线、粗糙度曲线、滤波波起伏曲线、滤波波中心线起伏曲线、滚动圆中心线起伏曲线、特殊粗糙度曲线
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全新!! 智能冲浪
这款便携式表面粗糙度仪操作直观,探测器小巧紧凑,是测量深孔的理想选择。
同类产品中 一款采用一体式设计,可轻松握于掌心的产品。
类似智能手机的界面。自动调整屏幕方向。
一键式直角测量
类似智能手机的界面,包含截图功能。
触控笔
5μm 90° *可选:2μm 90°
检测范围
400/100/10μm
解决
50/10/5nm
驾车距离
25.5毫米
参数
Ra、Rz、Rp、Rv 等。
外形尺寸和质量
尺寸:宽152×深87×高81毫米;重量:约500克
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SE800系列
测量可依据ISO、JIS、DIN、ASME和BS等国际标准以及新旧国家标准进行。为此,可使用各种滤波器、截止值、测量长度和计算方法。
它符合国际标准。
数据图表可以自由布局。
通过任意组合各种测量自动化元件,可以执行一系列测量操作。
可以进行更高级的分析和筛选。
测量参数
JIS (2013/94/82)、DIN、ISO、ASME
测量范围
Z轴:600微米;X轴:100毫米
测量放大倍率
垂直方向:50-500,000;水平方向:1-5,000
进给速度
0.05~3mm/s *高速运动时可达30mm/s
垂直移动范围
300毫米
记录
您可以使用自由布局进行录制。
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三维测量
在高级表面粗糙度测量仪器中添加三维表面粗糙度测量功能是可行的。这使得能够利用“线"和“面"两个维度对目标表面进行深入评估。
数据收集和分析可以并行进行。
可以使用鸟瞰图和灰度图记录三维粗糙度。
高分辨率测量,最大采样率可达1亿点。
舞台尺寸
150 x 150 毫米
坡度调整范围
1° (X, Y)
舞台移动量
50毫米
最小移动步长
Y:1 微米
最大承载能力
5公斤
外形尺寸和质量
宽312×深150×高70毫米・约8公斤
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阶段驱动型
这款台式测量机在直线度测量方面具有很高的精度,可以轻松、非常精确地测量小型、易损零件。
使用数字秤进行数字采样
固定式探测器移动桌型
驾车距离
100毫米、200毫米、300毫米
笔直
0.2μm/100mm 0.4μm/200mm 0.6μm/300mm
其他的
高精度平台式监视器可实现测量定位和测量观察。
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非接触式探测器
非接触式测量可在不损伤样品的情况下进行测量。紧凑的光学装置能够测量内径的表面纹理,而这对于现有的非接触式探测器来说是难以实现的。
由于它检测的是偏离焦点的程度,因此没有部件会移动以跟随形状,从而可以进行高速测量。
激光器的光强度可以分 20 级调节,即使对反射率低的工件也能进行测量。
自动停止功能会自动将探测器移动到焦点,无需手动对焦。
测量范围
12–500 μm
解决
0.2–0.5 纳米
测量范围内的光斑直径
约1-25微米
测量精度
1% + 0.03 微米
重复性
10纳米
激光
最大输出功率 2mW,波长 635nm,1 类(JIS C 6802:2011)
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