otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器
可即时测量绝对量子效率（绝对量子产率）。兼容粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品。低杂散光多通道光谱检测器显著降低了紫外区域的杂散光。

otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器

otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器

可即时测量绝对量子效率（绝对量子产率）。兼容粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品。低杂散光多通道光谱检测器显著降低了紫外区域的杂散光。采用积分半球单元实现了高亮度光学系统，并利用这一优势进行再激发荧光校正，从而实现高精度测量。此外，还可以测量量子效率的温度依赖性，并覆盖从紫外到近红外的宽波长范围。

 产品信息

特征

致力于高精度测量

瞬时测量 量子效率（ 量子产率）

可以去除再激发荧光。

采用积分半球单元可实现高亮度光学系统。

采用低杂散光多通道光谱探测器可显著降低紫外区域的杂散光。

温度控制功能（50 至 300°C）可测量量子效率（量子产率）的温度依赖性

支持从紫外到近红外（300至1600纳米）的宽带规格

注重操作简便性

使用专用软件操作简便

样品测量池易于安装和拆卸。

节省空间且设计紧凑

通过使用光谱仪型激发光源，可以选择任意波长的光。

通过在软件中指定激发波长和步长值，可以实现自动测量。

注重多功能性

适用于粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品

广泛的分析功能

测量项目

量子效率（量子产率）测量

激发波长依赖性测量

发射光谱测量

PL激发光谱测量

激发发射矩阵 (EEM) 测量

目的

LED和有机电致发光荧光粉的量子效率（量子产率）测量

测量薄膜样品（例如用于远程荧光粉的荧光粉样品）透射和反射荧光的量子效率（量子产率）。

量子点、荧光探针、生物场、包合物等的荧光测量。

染料敏化太阳能电池量子效率（量子产率）的测量

复杂化合物的测量

高精度的原因

1. 具有积分半球的理想光学系统

QE-2100 配备有积分半球。与积分球（全球）相比，积分半球具有以下优点：

由于非发光部分（支架等）可以暴露在外，因此可以最大限度地减少自吸收，从而实现理想的光学系统。

该镜子使同一点的照度加倍，从而可以进行高度灵敏的测量。

样品测量池可以很容易地安装和拆卸，从而降低损坏积分球内部的风险。

2. 利用再激发荧光校正函数观察“真实物理性质"

当考虑再激发荧光时，观测到的并非材料的物理性质，而是器件的特性，因此无法确定材料的真实物理性质。QE-2100 利用积分半球的优势来补偿再激发荧光，从而实现简单而高精度的测量。

3. 低杂散光多通道光谱探测器可减少紫外范围内的杂散光

传统探测器（多色仪）在紫外区域会检测到大量杂散光，因此不适用于测量量子效率（量子产率）。大塚电子通过开发杂散光消除技术解决了这一问题。QE-2100 中安装的多通道光谱探测器与我们之前的产品相比，杂散光量减少了约五分之一，即使在紫外区域也能进行高精度测量。