otsuka大塚电子 高速减速测量装置 RE-200
RE-200是什么？
RE-200 将由光子晶体元件（偏振元件）和 CCD 相机组成的偏振测量模块与透射式偏振光学系统相结合，可对相位差（延迟）和主轴方位角进行高速、高精度的测量。由于偏振强度图是通过 CCD 相机的单次拍摄获得的，因此无需旋转偏振器，整个系统结构紧凑，即使长时间使用也能保持稳定的性能。
通过拟合傅里叶变换来计算椭圆率ε和方

otsuka大塚电子 高速减速测量装置 RE-200

otsuka大塚电子 高速减速测量装置 RE-200

 产品信息

特征

可从 0 nm 开始进行低（残余）延迟测量

可以同时进行高速延迟 (Re.) 测量和光轴检测

（ 快的处理时间不到 0.1 秒）。

由于没有驱动单元，因此实现了高重复性。

需要设置的测量项目更少，使测量更容易

测量波长：550nm 及其他多种波长

可进行 Rth 测量和 角测量

（需要可选的自动旋转和倾斜夹具）

通过与拉伸试验机结合使用，可以同时评估薄膜的极化特性及其光弹性

（该系统可特殊订购）。

测量项目

延迟（ρ[度]，Re[nm]）

主轴方位角 (θ[deg])

椭圆率 (ε) / 方位角 (γ)

三维折射率（NxNyNz）

测量目标

相差膜、偏光膜、椭圆膜、视角改善膜、各种功能膜

透明且各向异性的材料，例如树脂和玻璃（玻璃的变形、扭曲等）

 原则

RE-200是什么？

RE-200 将由光子晶体元件（偏振元件）和 CCD 相机组成的偏振测量模块与透射式偏振光学系统相结合，可对相位差（延迟）和主轴方位角进行高速、高精度的测量。由于偏振强度图是通过 CCD 相机的单次拍摄获得的，因此无需旋转偏振器，整个系统结构紧凑，即使长时间使用也能保持稳定的性能。

通过拟合傅里叶变换来计算椭圆率ε和方位角γ。

 规格

规格

模型RE系列

样本量

最小尺寸 10 x 10 毫米 - 最大尺寸 100 x 100 毫米

测量波长550nm（标准规格）*1

延迟测量范围约0纳米至约1微米

轴检测重复性0.05°（3σ）*2

探测器偏振测量模块

测量点直径2.2毫米 x 2.2毫米

光源100瓦卤素灯或LED光源

身体和体重尺寸：300（宽）× 560（高）× 430（深）毫米，重量：约20公斤

选项

可进行Rth测量和 角测量。*夹具本体（旋转：180°，倾斜：±50°）

自动旋转倾斜夹具