otsuka大塚电子 ELSZneoSE 粒径测试系统

ZETA电位·粒径测试系统·ELSZneoSE
本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。..

otsuka大塚电子 ELSZneoSE 粒径测试系统

otsuka大塚电子 ELSZneoSE 粒径测试系统

 产品信息

特点

● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)

● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位

● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的粒径zeta电位

● 可以在高盐浓度下测定平板状样品的zeta电位

● 可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果

● 可安装荧光滤光器(选配)

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

- 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

- 纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。

● 陶瓷/着色材料工业领域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

- 颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

- 浆料状样品

- 滤光器

- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

- 异物附着在硅晶片表面的原理解析

- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

- CMP浆料的相互作用

● 聚合物/化工领域

- 乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

- 聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究

- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

- 乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测

 测定项目

● Zeta电位

● 粒径

参数

测量原理

粒径

动态光散射法（光子相关法）

ZETA电位

电泳光散射法（激光多普勒法）

分子量

静态光散射法

光学系统

粒径

零差光学系统

ZETA电位

外差光学

分子量

零差光学系统

光源

高功率半导体激光器

探测器

高灵敏度APD

样品池单元

ZETA电位：标准池 微量一次性池或浓缩池

粒度/分子量：方形池

温度

0~90℃（带温度梯度功能）

电源

220V ± 10% 250VA

尺寸(WDH)

330(W)×565(D)×245(H)

重量

22Kg

测量范围

ZETA电位

No effective limitations（无有效上限）

电气移动度

-2×10-5 ~ 2×10-5 cm·s

粒径

0.6nm ~ 10um

● 对应范围

测量温度范围

0~90℃

测量浓度范围

*1

*1（ 标准粒子 ： 0.00001 ～ 10%、  牛磺酸 ： ～ 40%）

准样品池套件

可测量粒子径与ZETA电位电位的样品池套件

粒径测量套件

可测量粒径的样品池套件，可使用市面上的四角样品槽