TOHO-TEC东朋 OC915 远程无线电设备 远程无线电OWLCODE 这是一款采用 920MHz 频段的 LPWA（私有 LoRa）无线设备。它无需运行成本或许可证，即可低成本、便捷地连接工厂内分散的信息。该设备支持灵活的系统构建，例如仅使用 OWLCODE 进行远程监控而无需 PLC 或 PC，或者通过网关聚合来自多个 OWLCODE 的信息。

TOHO-TEC东朋 电容电压分析仪 ECV Pro+ 电化学电容电压分析仪：ECV Pro+ 电化学电容电压剖面仪 (ECV Pro+) 是一种用于评估半导体材料电学特性的分析仪器，尤其适用于分析掺杂分布（半导体材料内部杂质浓度的分布）。该仪器通过测量对半导体晶片施加电压后产生的电容变化，来分析半导体材料内部不同深度的载流子分布和杂质浓度。

TOHO-TEC东朋 HL9950 霍尔效应测试仪 霍尔效应测量装置 HL9900 HL9900 是一款高性能霍尔效应测量系统，能够测量半导体的电阻率、载流子浓度和迁移率。它采用模块化设计，便于升级，适用于测量包括硅和化合物半导体在内的多种材料。

TOHO-TEC东朋 HL9980 霍尔效应测试仪 霍尔效应测量装置 HL9900 HL9900 是一款高性能霍尔效应测量系统，能够测量半导体的电阻率、载流子浓度和迁移率。它采用模块化设计，便于升级，适用于测量包括硅和化合物半导体在内的多种材料。

TOHO-TEC东朋 HL9900 霍尔效应测试仪 霍尔效应测量装置 HL9900 HL9900 是一款高性能霍尔效应测量系统，能够测量半导体的电阻率、载流子浓度和迁移率。它采用模块化设计，便于升级，适用于测量包括硅和化合物半导体在内的多种材料。

TOHO-TEC东朋 TohoSpec3100T 薄膜厚度设备 薄膜应力测量装置 FLX 在半导体领域，随着速度和集成度的不断提高，衬底和沉积材料的开发、选择和管理变得比以往任何时候都更加重要，沉积过程也需要更严格的条件和质量控制。FLX 系列器件正是用于测量和分析沉积过程中产生的薄膜应力。